Шукати за:
Роком видання
Автором
Назвою статті
Аналіз властивостей наноповерхностей за ACM зображенням
Повний текст (PDF)
УДК: 004.93'1;004.932
Мова публікації: Російська
Stuc. intelekt. 2011; 16; (3):246-253
Анотація: У даній статті представлена схема алгоритму аналізу наноповерхності за зображеннями атомно-силової мікроскопії. В основі аналізу лежить корекція нерівномірного контрасту і виділення об’єктів з округлою формою. Даний алгоритм дозволив визначити не тільки класичні характеристики опису наноповерхності, такі як шорсткість, але і додаткові характеристики нанооб’єктів, що дозволяють отримати як їх індивідуальний, так і груповий опис.
Ключові слова:
Посилання:
- Sellmyer D. Advanced Magnetic Nanostructures. Springer. 2006
- Szmaja W. Magnetism Magnetic Mater. № 189(3), 353. 1998
- Yukio М. Proc. SPIE Applications of Digital Image Processing XV. Ed. by A. G. Tescher (SPIE Homepage).№1771, 20. 1993.
- Zhu Q. Magnetism Magnetic Mater. № 248(2), 292. 2002.
- Wang L. Scripta Materiala 47(11), 781. 2002.
- Paturi P. Rev. Sci. Instr. 74(6), 2999. 1990.
- A. Nedzved. Processing of Needkes-Like Images of Magnetic Domain Structures in Ultrathin CobaltWedge, 8th International Conf. on Pattern Recognition and Information Processing (PRIP’2005). May18–20, 2005. Belarus. Minsk. 2005. P. 108-111.
- Nedzved A. Pattern Recognition and Image Analysis. Vol. 19. № 2. 2009. P. 321-333.